应用案例 3D线激光SIM卡托平面度检测让你信号满满

SIM卡托多选用不锈钢片或者合金材料加工而成,来确保SIM卡托在实际使用过程中具有足够的坚韧度。但在生产过程中由于一些因素,可能会出现SIM卡托表面不平整或者缺陷,若未能及时发现,在装配成品后会影响产品的使用性能。

 

利用三维线激光扫描仪,来检测SIM卡托是否缺陷或者损坏,采用非接触方式,无需担心划伤目标物,在高速、精细和重复的检测过程中也更加可靠,与传统的人工检测方法相比,具有不可替代的优越性。

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三维线激光扫描仪

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激光三角反射原理

1.三维轮廓扫描仪发射线激光,测量物体被照射后表面形成漫反射,反射光通过 CMOS 芯片进行接收,通过计算反射光在芯片的位置,可以得到被测物体的高度段差和形状信息。

2.根据被测物体的大小和精度要求,可针对 LS 系列灵活选型,搭设简便,易于集成。

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产品特点

1.高精度CMOS芯片,横向轮廓数据最高3840点;

2.蓝色半导体激光,最大限度保证稳定检测;

3.优异的算法处理,集成动态曝光,动态3D轮廓算法等多项专有技术;

4.IP67等级防护,适应各种复杂应用环境;

5.灵活的视场宽度,各种型号可供选择。

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检测案例

检测需求:

1.精度要求:平面度重复性0.01mm以内;

2.速度要求:2.5s/pcs以内。

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应用选型

方案采用wonsor一体式3D激光轮廓仪LS-4020,测量范围±2.3mm,基准距离为20mm,Z轴重复精度可达0.4μm。采用非接触方式,无需担心划伤目标物;通过使用倾斜补正功能消除因目标物的 位置偏移所导致的误差。

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检测结果

相机水平安装,扫描卡托测量32组数据,重复性为0.005mm。

 

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客户获益

 

1.三维线激光扫描仪处理图像速度快,效率高,检测精度满足项目需求;

2.核心芯片自主研发,高性价比,节约客户成本;

3.一体式3D激光轮廓仪LS-4020高精度稳定测量,保证客户生产品质管控。

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